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Analysis of residual stress in diamond films by x-ray diffraction and micro-Raman spectroscopy |
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:N. G. Ferreira; E. Abramof; N. F. Leite; E. J. Corat; V. J. Trava-Airoldi 出版日期:2002-07-26 |
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(2025-6-4)