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Controlling the beam angle spread of carbon implantation for improvement of bin map defect in V-NAND flash memory |
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期刊:Memories - Materials, Devices, Circuits and Systems 作者:Gui-Fu Yang; Sung-Hwan Jang; SUNG-UK JANG; Tae-Hyun Lee; Da-Hye Kim; et al 出版日期:2023 |
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(2025-6-4)