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 Measurement of the Effective Refractive Index of Silicon-on-Insulator Waveguide Using Mach–Zehnder interferometers 用Mach-Zehnder干涉仪测量绝缘体上硅波导的有效折射率
相关领域
马赫-曾德尔干涉仪
绝缘体上的硅
天文干涉仪
折射率
硅
硅光子学
波导管
材料科学
光学
光电子学
干涉测量
物理
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期刊：Sensors and Actuators A-physical 作者：Jie Liao; Lianqing Zhu; Lidan Lu; Li Yang; Guang Chen; et al 出版日期：2024-09-01 |
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