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 Young's Modulus and Poisson's Ratio Characterization of Tungsten Thin Films Via Laser Ultrasound 激光超声表征钨薄膜的杨氏模量和泊松比
相关领域
材料科学
薄膜
泊松比
硅
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光学
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期刊：Materials Today Proceedings 作者：Eva Grünwald; Robert Nuster; R. Treml; Daniel Kiener; Guenther Paltauf; et al 出版日期：2015-01-01 |
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