Detection and characterization of defects in microelectronic packages and boards by means of high-resolution x-ray computed tomography (CT)

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标题	Detection and characterization of defects in microelectronic packages and boards by means of high-resolution x-ray computed tomography (CT)
网址	http://dx.doi.org/10.1109/ectc.2011.5898673
DOI	10.1109/ectc.2011.5898673 doi
其它	期刊：2011 IEEE 61st Electronic Components and Technology Conference (ECTC) 作者：Mario Pacheco; Deepak Goyal 出版日期：2011-05-01
求助人	sss 在 2026-08-18 21:26:45 发布自河南，悬赏 10 积分
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