| 标题 |
Self‐Healing Metal Circuits via Controlled Electrochemical Migration: Turning A Reliability Hazard Into an Automatically Triggered and Repeatable Repair Strategy 通过受控电化学迁移自修复金属电路:将可靠性危害转化为自动触发和可重复的修复策略
相关领域
材料科学
电子线路
电化学
导电体
柔性电子器件
纳米技术
数码产品
电解质
泄漏(经济)
电压
可靠性(半导体)
复合材料
印刷电路板
集电器
弯曲
电容器
纳米材料
灾难性故障
微电子
光电子学
集成电路
电极
金属
电化学电池
计算机科学
失效模式及影响分析
机械工程
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Advanced Functional Materials 作者:Fei Gao; Wei Mo; Ze Ping Zhang; M RONG; Ming Zhang 出版日期:2025-12-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|