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Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale |
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期刊:Surface and Coatings Technology 作者:M. Sebastiani; C. Eberl; E. Bemporad; A.M. Korsunsky; W.D. Nix; et al 出版日期:2014-07-01 |
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