Single Event Effects of SiC Power MOSFETs: From Neutron Interaction to Destruction at the Die Level

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标题	Single Event Effects of SiC Power MOSFETs: From Neutron Interaction to Destruction at the Die Level
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/23/11128994/10967044.pdf...
DOI	10.1109/tns.2025.3561583 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Rosine Coq Germanicus; Alain Michez; Kimmo Niskanen; Mahima Chaudhary; Guillaume Bascoul; et al 出版日期：2025-04-16
求助人	BUG 在 2026-05-06 11:44:29 发布自北京，悬赏 10 积分
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