| 标题 |
Numerical and experimental investigation of the effect of side injectors on the deposition rate near the wafer edge during atmospheric pressure chemical vapor deposition 相关领域
喷油器
薄脆饼
材料科学
沉积(地质)
喷射(流体)
机械
压力降
GSM演进的增强数据速率
动量(技术分析)
光电子学
热力学
物理
地质学
古生物学
电信
财务
沉积物
计算机科学
经济
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Ba-Phuoc Le; Wei-Jie Lin; Jyh-Chen Chen; Chieh Hu; Chun-Chin Tu; et al 出版日期:2023-12-23 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)