Impact of the SiC MOSFET Body Diode in Heavy Ion-Induced Single-Event Damage

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标题	Impact of the SiC MOSFET Body Diode in Heavy Ion-Induced Single-Event Damage 相关领域 MOSFET 重离子材料科学二极管光电子学碳化硅事件（粒子物理）离子电气工程物理晶体管工程类电压复合材料量子力学
网址	http://dx.doi.org/10.23919/ISPSD62843.2025.11117480
DOI	10.23919/ISPSD62843.2025.11117480 doi
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