| 标题 |
Phase identification and AES depth profile analysis of Cu(In,Ga)Se2 thin films 相关领域
硒化铜铟镓太阳电池
黄铜矿
同质性(统计学)
俄歇电子能谱
薄膜
苏打石灰玻璃
四方晶系
化学成分
分析化学(期刊)
化学浴沉积
材料科学
相(物质)
铜
化学
物理
冶金
纳米技术
复合材料
统计
有机化学
核物理学
色谱法
数学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Brazilian Journal of Physics 作者:Eduardo Romero; C. Calderón; P. Bartolo‐Pérez; F. Mesa; G. Gordillo 出版日期:2006-09-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|