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Direct observation of surface charge redistribution in active nanoscale conducting channels by Kelvin Probe Force Microscopy 开尔文探针力显微镜直接观察活性纳米导电通道表面电荷再分布
相关领域
开尔文探针力显微镜
材料科学
表面电荷
伏打电位
纳米尺度
光电子学
电场
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纳米技术
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物理
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期刊:Nanotechnology 作者:S. Ye; Xingzhao Yan; Muhammad K. Husain; Shinichi Saito; C.H. de Groot; et al 出版日期:2021-04-30 |
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