| 标题 |
 Research on the total dose irradiation effect of partial-depletion-silicon-on insulator static random access memory 相关领域
静态随机存取存储器
绝缘体上的硅
辐照
辐射硬化
辐射
材料科学
晶体管
电压
辐射损伤
光电子学
物理
计算机科学
硅
光学
计算机硬件
量子力学
核物理学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Acta Physica Sinica 作者：Ming Li; YU Xue-feng; Xue Yaoguo; Lu Jian; Jiangwei Cui; et al 出版日期：2012-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
嘉心糖
Nole
秋风
哈哈哈
cdercder
无极微光
aaaa
Enigma_GEB
Criminology34
神勇映雁
DW
极限001
GingerF
初景
DIVINEDC
XX
OK
aajhajkahna
积极凌旋
无限凤妖
皖公网安备34019202002308
