Mobility–stability trade-off in oxide thin-film transistors

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标题	Mobility–stability trade-off in oxide thin-film transistors 氧化物薄膜晶体管的迁移率-稳定性折衷相关领域薄膜晶体管材料科学光电子学晶体管电子迁移率阈值电压氧化物薄膜晶体管纳米技术图层（电子）电气工程电压工程类
网址	https://doi.org/10.1038/s41928-021-00671-0
DOI	10.1038/s41928-021-00671-0 doi
其它	期刊：Nature electronics 作者：Yu‐Shien Shiah; Kihyung Sim; Yuhao Shi; Katsumi Abe; Shigenori Ueda; et al 出版日期：2021-11-22
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