| 标题 |
Role of N2 during chemical dry etching of silicon oxide layers using NF3/N2/Ar remote plasmas |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Microelectronic Engineering 作者:Duck-Jin Kim; Y. Yun; J. Y. Hwang; N. Lee; K. Kim; et al 出版日期:2007-04-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)