Review of SiC MOSFET Failure Analysis Under Extreme Conditions: High Temperature, High Frequency and Irradiation

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标题	书籍（章节） Review of SiC MOSFET Failure Analysis Under Extreme Conditions: High Temperature, High Frequency and Irradiation
网址	https://doi.org/10.1007/978-981-19-1922-0_8
DOI	10.1007/978-981-19-1922-0_8 doi
其它	期刊：Lecture notes in electrical engineering 作者：Ziyang Zhang; Lin Liang; Hai Shang 出版日期：2022-01-01
求助人	宇文天思在 2026-08-19 16:25:50 发布自英国，悬赏 30 积分
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