| 标题 |
Effect of Transistor and Interconnect Scaling on Aging in Advanced SRAM |
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| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Zhe Zhang; Mahta Mayahinia; Christian Weis; Norbert Wehn; Mehdi Tahoori; et al 出版日期:2026-09-01 |
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(2025-6-4)