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Total-ionizing-dose radiation response of 32 nm partially and 45 nm fully-depleted SOI devices 32 nm部分耗尽和45 nm完全耗尽SOI器件的总电离剂量辐射响应
相关领域
绝缘体上的硅
灵敏度(控制系统)
兴奋剂
光电子学
材料科学
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物理
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