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 An overview of HR-EBSD techniques for mapping local stress and dislocations in crystalline materials at sub-micron resolution 亚微米分辨率绘制晶体材料局部应力和位错的HR-EBSD技术综述
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期刊：Progress in Materials Science 作者：Timothy Ruggles; William Gilliland; David T. Fullwood; Josh Kacher 出版日期：2025-09-30 |
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