标题 |
A 28-nm 75-fs rms Analog Fractional- $N$ Sampling PLL With a Highly Linear DTC Incorporating Background DTC Gain Calibration and Reference Clock Duty Cycle Correction
具有高线性DTC的28 nm 75fs RMS模拟分数N$采样PLL,包括背景DTC增益校准和基准时钟占空比校正
相关领域
锁相环
抖动
相位噪声
算法
采样(信号处理)
线性
计算机科学
数学
物理
电子工程
电信
工程类
探测器
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Journal of Solid-state Circuits 作者:Wanghua Wu; Chih-Wei Yao; Kunal Godbole; Ronghua Ni; Pei-Yuan Chiang; et al 出版日期:2019-03-12 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|