| 标题 |
[高分]
 A Bandgap Reference in 65 nm CMOS with Low Threshold Voltage MOSFET 65 nm CMOS低阈值MOSFET带隙基准
相关领域
带隙基准
MOSFET
CMOS芯片
阈值电压
光电子学
材料科学
电压
电气工程
电压基准
晶体管
工程类
跌落电压
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期刊：Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics 作者：Junan Zhang; Guangjun Li; Ruitao Zhang; Xi Li; Dongbing Fu; et al 出版日期：2017-12-01 |
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