| 标题 |
[高分]
 Impact of test-fixture forward coupling on on-wafer silicon device measurements 测试夹具正向耦合对晶片上硅器件测量的影响
相关领域
试验夹具
固定装置
薄脆饼
联轴节（管道）
嵌入
晶片测试
电子工程
水准点（测量）
缩放比例
绝缘体上的硅
正在测试的设备
计算机科学
材料科学
硅
散射参数
工程类
光电子学
机械工程
数学
人工智能
几何学
大地测量学
地理
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| 其它 |
期刊：IEEE Microwave and Guided Wave Letters 作者：Troels Kolding 出版日期：2000-01-01 |
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