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 Atomic-resolution lithography with an on-chip scanning tunneling microscope 用片上扫描隧道显微镜进行原子分辨率光刻
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期刊：Journal of vacuum science and technology 作者：Afshin Alipour; Emma L. Fowler; S. O. Reza Moheimani; James H. G. Owen; John N. Randall 出版日期：2022-04-25 |
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