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 In situ differential atomic force microscopy (AFM) measurement for ultra-thin Thiol SAM patterns by area-selective deposition technique 区域选择性沉积技术原位差分原子力显微镜（AFM）测量超薄硫醇SAM图案
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期刊：Surfaces and Interfaces 作者：Xinshuang Gao; Hongru Zhang; Li Shi; Luya Wang; Xingang Dai; et al 出版日期：2024-03-01 |
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