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 Humble planar defects in SiGe nanopillars SiGe纳米柱中的微小平面缺陷
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期刊：Physical review. B./Physical review. B 作者：Hongbin Yang; Shang Yuan Ren; Sobhit Singh; Emily M. Turner; K. S. Jones; et al 出版日期：2022-08-31 |
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