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Early Detection of Random High-k Dielectric Failure using Laser-Induced Leakage-Current Mapping |
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期刊:2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者:J.Y. Hong; J.M. Jo; C.B. Lee; S.M. Kim; C.H. Ahn; et al 出版日期:2026-03-22 |
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(2025-6-4)