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Analysis of Program Speed Characteristics Having Non-ideal Channel Profile in 3D NAND Flash Memory 相关领域
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期刊:JSTS Journal of Semiconductor Technology and Science 作者:Jae Wook Lee; Yungjun Kim; Yoocheol Shin; S. B. Park; Hojong Kang; et al 出版日期:2024-08-31 |
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