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A 10T Soft-Error-Immune SRAM With Multi-Node Upset Recovery for Low-Power Space Applications 相关领域
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期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Soumitra Pal; Shubham Sahay; Wing‐Hung Ki; Chi-Ying Tsui 出版日期:2022-01-31 |
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