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Unclamped inductive stressing of GaN and SiC Cascode power devices to failure at elevated temperatures GaN和SiC共源共栅功率器件在高温下失效的未箝位感应应力
相关领域
共栅
JFET公司
材料科学
高电子迁移率晶体管
光电子学
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晶体管
场效应晶体管
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放大器
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Yasin Gunaydin; Saeed Jahdi; Xibo Yuan; Renze Yu; Chengjun Shen; et al 出版日期:2022-09-25 |
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