Revealing the Positive Bias Temperature Instability in Normally-OFF AlGaN/GaN MIS-HFETs by Constant-Capacitance DLTS

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标题	Revealing the Positive Bias Temperature Instability in Normally-OFF AlGaN/GaN MIS-HFETs by Constant-Capacitance DLTS
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8746072/8757559/08757587...
DOI	10.1109/ispsd.2019.8757587 doi
其它	期刊：2019 31st International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) 作者：Sen Huang; Xinhua Wang; Xinyu Liu; Xuanwu Kang; Jie Fan; et al 出版日期：2019-07-12
求助人	KULI 在 2026-02-04 16:09:01 发布自美国，悬赏 10 积分
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