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Revealing the Positive Bias Temperature Instability in Normally-OFF AlGaN/GaN MIS-HFETs by Constant-Capacitance DLTS |
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期刊:2019 31st International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) 作者:Sen Huang; Xinhua Wang; Xinyu Liu; Xuanwu Kang; Jie Fan; et al 出版日期:2019-07-12 |
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