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标题
Electrode material dependent breakdown and recovery in advanced high-κ gate stacks
先进高κ栅极堆叠中电极材料依赖性击穿和恢复
相关领域
材料科学 丝状化 锡 电极 光电子学 电介质 高-κ电介质 金属浇口 介电强度 SILC公司 高压 随时间变化的栅氧化层击穿 栅极电介质 栅氧化层 电压 电气工程 等离子体 冶金 化学 晶体管 物理 量子隧道 物理化学 量子力学 工程类
网址
https://doi.org/10.1063/1.3429682
DOI
10.1063/1.3429682 doi
其它 期刊：Applied Physics Letters
作者：X. Wu; K. L. Pey; G. Zhang; Ping Bai; Xiaofan Li; et al
出版日期：2010-05-17
求助人
俏皮秋尽 在 2025-05-07 23:39:19 发布自上海，悬赏 10 积分
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