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![]() 在原子尺度上探测和操纵InGaAs双层金属氧化物的界面缺陷
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期刊:2018 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) 作者:Xing Wu; Chen Luo; Peng Hao; Tao Sun; Runsheng Wang; et al 出版日期:2018-06-23 |
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