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标题
A Unified TDDB Model for BEOL Dielectrics of Various Structures and Thick FEOL Dielectrics
各种结构BMEL介电体和厚FMEL介电体的统一TDDB模型
相关领域
随时间变化的栅氧化层击穿 电介质 材料科学 光电子学 介电强度 生产线后端 电子工程 工程物理 电气工程 栅极电介质 工程类 晶体管 电压
网址
https://doi.org/10.1109/ted.2024.3445888
DOI
10.1109/ted.2024.3445888 doi
其它 期刊：IEEE Transactions on Electron Devices
作者：Kenji Okada; Kei Date; Brian McGowan; Huai Huang; Ernest Y. Wu; et al
出版日期：2024-08-29
求助人
支盼夏 在 2025-05-18 18:01:36 发布自安徽，悬赏 10 积分
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