| 标题 |
Electrical Performance and Deep-Level Trap Characterization of p-CuGaO2/β-Ga2O3 Heterojunctions for Power Electronics 电力电子用p-CuGaO2/β-Ga2O3异质结的电学性能及深能级陷阱表征
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Chowdam Venkata Prasad; Geon-Hee Lee; Jang Hyeok Park; Dudekula Shaikshavali; Kyong Jae Kim; et al 出版日期:2025-07-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)