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 P‐7.4: Influence of Annealing on Electrical Properties of ITO‐Decapped a‐Si:H TFT P-7.4：退火对ITO去帽的a-Si：H TFT的电性能的影响
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期刊：SID Symposium Digest of Technical Papers 作者：Xu Luo; Dan Liu; Wenxiang Chen; Faling Ling; Fang Wu; et al 出版日期：2023-04-01 |
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