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标题
Single event burnout failures caused in silicon and silicon carbide power devices by single alpha particles emitted from radioactive nuclides
放射性核素发射的单个α粒子在硅和碳化硅功率器件中引起的单事件烧毁故障
相关领域
碳化硅 材料科学 硅 α粒子 热失控 核工程 光电子学 功率MOSFET 功率（物理） 电气工程 电压 核物理学 MOSFET 工程类 冶金 物理 晶体管 电池（电） 量子力学
网址
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115127
AI链接 handle.net ethz.chdoi.org
DOI
10.1016/j.microrel.2023.115127 doi
其它 期刊：Microelectronics Reliability
作者：Marco Pocaterra; Mauro Ciappa
出版日期：2023-10-01
求助人
斯文败类 在 2025-08-29 20:58:15 发布，悬赏 10 积分
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