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Bi-Directional Long Short-Term Memory Neural Network Modeling of Data Retention Characterization in 3-D Triple-Level Cell NAND Flash Memory |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Hyundong Jang; Chanyang Park; Kihoon Nam; Hyeok Yun; Kyeongrae Cho; et al 出版日期:2022-06-17 |
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