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Comparative Analysis of Carrier Extraction Related Failure Mechanisms in P-GaN HEMTs Under Single-Event Burnouts |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Ruize Sun; Renjie Wu; X. Wang; Chao Liu; Wanjun Chen; et al 出版日期:2025-06-01 |
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(2025-6-4)