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标题
Comparative Analysis of Carrier Extraction Related Failure Mechanisms in P-GaN HEMTs Under Single-Event Burnouts
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DOI
10.1109/ted.2025.3564234 doi
其它 期刊:IEEE Transactions on Electron Devices
作者:Ruize Sun; Renjie Wu; X. Wang; Chao Liu; Wanjun Chen; et al
出版日期:2025-06-01
求助人
张豪 在 2026-08-21 11:40:38 发布自广东,悬赏 10 积分
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