| 标题 |
Enhancement of apple defect identification with semantic segmentation and label-efficient data generation |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Engineering Applications of Artificial Intelligence 作者:Jiwon Ryu; Sang-Yeon Kim; Chang-Hyup Lee; Gyumin Kim; Gyumin Kim; et al 出版日期:2025-10-21 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)