| 标题 |
Preparation and performance of an investigated temperature response device based on Sn–3.5 Ag film 相关领域
材料科学
溅射
合金
过热(电)
短路
扫描电子显微镜
熔点
光电子学
衍射
差示扫描量热法
分析化学(期刊)
薄膜
复合材料
纳米技术
电气工程
光学
电压
化学
物理
工程类
热力学
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Materials Science Materials in Electronics 作者:Tao Qiu; Jinchun Deng; Chao He; Jun Shen 出版日期:2022-07-13 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|