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Study on Single Event Effect of SiC MOSFET by Proton Irradiation |
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期刊:2024 IEEE 17th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT) 作者:Wende Huang; Chengwen Fu; Yao Ma; Mingmin Huang; Xiaoping Dong; Qiang Yu 出版日期:2025-01-17 |
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(2025-6-4)