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Controlled Insertion of Planar Defect in Inverse Opals for Anticounterfeiting Applications 用于防伪应用的反蛋白石中平面缺陷的受控插入
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期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Yongjoon Heo; Su Yeon Lee; Ji‐Won Kim; Tae Yoon Jeon; Shin‐Hyun Kim 出版日期:2017-11-22 |
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