| 标题 |
Impact of Back-Gate Bias on the Total Ionizing Dose and Hot Carrier Injection Effects in Double SOI nMOSFETs |
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| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Yuan Gao; Zihan Wang; Yongwei Chang; Zhongying Xue; Xing Wei 出版日期:2025-05-01 |
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(2025-6-4)