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ROBUST RELIABILITY FOR LIGHT EMITTING DIODES USING DEGRADATION MEASUREMENTS 相关领域
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10.1002/(sici)1099-1638(199603)12:2<89::aid-qre997>3.0.co;2-d
Doi
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期刊:Quality and Reliability Engineering International 作者:CHIH-HUA CHIAO; MICHAEL HAMADA 出版日期:2002-08-25 |
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