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Observation of threading dislocations and misfit dislocation half-loops in GaN/AlGaN heterostructures grown on Si using electron channeling contrast imaging |
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:S. Fan; Rong Liu; Yin-Lin Huang; Jianxun Liu; Xiaoning Zhan; et al 出版日期:2022-09-14 |
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