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 Quality Control of Graphene Field-Effect Transistor Arrays Using Slit-Scanning Raman Microscopy 相关领域
拉曼光谱
石墨烯
材料科学
狭缝
场效应晶体管
光电子学
显微镜
扫描探针显微镜
质量（理念）
纳米技术
晶体管
光学
电气工程
物理
工程类
电压
量子力学
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期刊：ACS applied electronic materials 作者：Shota Ushiba; Tomomi Nakano; Yuka Tokuda; Shinsuke Tani; Masahiko Kimura; et al 出版日期：2025-01-30 |
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