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Junction-engineered Scaled High-performance GAA Nanosheet FETs with Ultra-low Temperature (< 350 °C) SiGe: B Source/Drain |
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期刊:2025 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:R. Sarkar; D. Casey; A. Dutta; P. Eyben; A. Pondini; et al 出版日期:2025 |
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(2025-6-4)