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Combination of float charging and occasional discharging to cause serious LIB degradation analyzed by operando neutron diffraction operando中子衍射分析浮充和偶尔放电相结合导致LIB严重退化
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期刊:Energy Advances 作者:T. Omiya; Atsunori Ikezawa; Keita Takahashi; Keiichi Saito; Masao Yonemura; et al 出版日期:2023-12-28 |
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