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 DefectSAM: Hierarchically Adapting SAM for Pixel-Wise Surface Defect Detection 相关领域
计算机科学
人工智能
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期刊：IEEE Transactions on Neural Networks and Learning Systems 作者：Feng Yan; Xiaoheng Jiang; Yang Lu; Jiale Cao; Mingliang Xu 出版日期：2025-07-12 |
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