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Characterization of lattice defects by x-ray absorption spectroscopy at the Zn K-edge in ferromagnetic, pure ZnO films 铁磁纯ZnO薄膜Zn K边晶格缺陷的x射线吸收光谱表征
相关领域
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:J. Haug; Angelika Chassé; Manfred Dubiel; Ch. Eisenschmidt; M. Khalid; et al 出版日期:2011-09-19 |
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